Сканирующие микроскопы

Сканирующие микроскопы купить в НПО ДиОД

Сканирующий электронный микроскоп (SEM) - это мощный инструмент анализа, который используется для изучения поверхностей образцов на микро- и наномасштабах. В отличие от обычного оптического микроскопа, который использует видимый свет для формирования изображения, SEM работает с помощью пучка электронов, что позволяет достичь намного большего разрешения.

Вот ключевые особенности и принцип работы сканирующих электронных микроскопов:

1. Источник электронов: SEM использует источник электронов, как правило, термоэлектронный катод или катод с полем, чтобы генерировать пучок электронов.
2. Фокусировка и ускорение: Пучок электронов фокусируется и ускоряется в направлении образца с помощью системы линз и электростатических или магнитных полей.
3. Взаимодействие с образцом: Когда пучок электронов попадает на поверхность образца, происходит взаимодействие между электронами и атомами образца. Это включает отражение, рассеяние и испускание вторичных электронов.
4. Образование изображения: SEM регистрирует сигналы, полученные в результате взаимодействия электронов с образцом, и использует их для создания изображения поверхности образца. Это позволяет получать изображения с высоким разрешением и детализацией.
5. Сканирование поверхности: В отличие от традиционных микроскопов, которые изображают всю поверхность одновременно, SEM сканирует поверхность образца последовательно, построчно или по пикселям. Это позволяет получать детальные изображения с высоким разрешением.

Сканирующие электронные микроскопы широко применяются в различных областях науки и промышленности, включая материаловедение, нанотехнологии, биологию, геологию и другие. Они позволяют исследователям и инженерам изучать структуру, морфологию и химические свойства различных материалов на микроскопическом уровне.